1. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
پدیدآورنده : Sachdev, Manoj.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
2. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
